产品详情
该装置为薄膜行业中实验仪器，用于检查和分析薄膜样品中晶点数量，达到改进生产加工工艺，控制晶点数量的目的。
1-1.关于该装置的运行环境
该装置为非标定制设备，用于实验室环境，实验室环境为无粉尘，无强酸强碱，无明火及水淹情况，严禁各部位在开门状态下使用。保证该装置始终处于干燥环境，防止部件因潮湿环境产生锈蚀或漏电隐患。
1-2.严禁事项
该装置为精密仪器，检测室内相机光源位置严禁移动；
装置已调试至最佳检测位置，整体设备不可剧烈移动或碰撞；
以下部件严禁触碰移动（相机、镜头、光源及其固定机构）。
1.3装置参数
检测薄膜尺寸：A4尺寸
检测精度：0.024mm
平台运行速度：0-40m/min
检测缺陷类型：晶点为主，其余缺陷为辅
1.4报表形式
该装置在检测完成后自动生成晶点数量分析报告
晶点等级：φ20-40μm φ40-60μm φ60-80μm φ80-100μm φ100-200μm ...... φ900-1000μm
可根据实际需求进行设置等级跨度
